真空鍍膜塗層膜厚(hòu)測量方式(shì)?
作者: 來源: 日期:2021-07-14 12:19:06 人氣:2158
我們日常生活中,很多生活物品都經過鍍膜(mó)機鍍上了一層膜層,讓產品不僅變得更(gèng)美觀,也更實用。但是很多人(rén)會有一個(gè)疑問,那既然是鍍了一層膜層,薄膜肯定是(shì)有厚度大小的,那麽薄膜厚度具體多厚呢,以及怎麽去測(cè)量?
薄膜(mó)必須沉積(jī)在基底之上, 所以離開了基片也就無從談薄膜沉(chén)積的問題。基片的清洗好(hǎo)壞又對薄膜的質最有(yǒu)極共重要的影響(xiǎng)。同時(shí)在薄膜的製作(zuò)中還必須知道薄膜的(de)厚度,脫離了薄膜的厚度來談薄膜性質的測最也是亳無意義的。 所以(yǐ), 膜厚的測量和基片的清洗可以說是和薄膜製作相關的重要技術。一般(bān)所謂的厚(hòu)度(dù)是指兩個(gè)完全平整的平行(háng)平麵(miàn)之間的距離,這個概(gài)念是一個幾何概念。
理想的薄(báo)膜(mó)厚度是指(zhǐ)基片表麵和薄(báo)膜表麵之間的距離。在薄膜形貌的三維度量中,相對於薄膜的厚度來講,其他兩維的度量可以說是無窮大。由於實(shí)際上存在的表麵是不平整和不連續的,而且薄膜的內部(bù)還可能存(cún)在著氣孔、雜質、晶格缺(quē)陷和表麵吸附分子等等,所有要嚴格地定義和精確地測量(liàng)薄膜(mó)的厚度實際上是很困難的。
膜厚的定義位當根據測址的方法和測址的目的決定。 因此,同一個薄膜,使用不(bú)同的測量方法會得到不同的結果, 即不(bú)同的厚度。
在薄膜油測量中的表麵並不是一個幾何的概念,而是(shì)一個 物埋概念,是指表麵分子(原子)的集合。 平均表麵是指表麵(miàn)原子所有(yǒu)的點到這個麵的距(jù)離代數和等於零, 平均表麵是一個兒何概念。
我們通常將基(jī)片的一側的表麵分子的集合的平均表麵稱(chēng)為基(jī)片表麵(miàn);薄膜上不(bú)和(hé)基片接觸的那一側的表麵的平均表麵稱為薄膜的形狀表麵,將(jiāng)所測量的薄膜原子重新排列,使其密度和(hé)大塊狀固體材料完全(quán)一樣且(qiě)均勻的分布在基片表麵上,這時平均表麵稱為薄膜質量等價表麵;根據所測量薄膜的物理性質(zhì)等效為一種長度和寬度與(yǔ)所測量的薄膜一樣的大(dà)塊固體材料(liào)的薄膜,這時的平均表(biǎo)麵稱為薄膜物性等價表麵。 形狀膜厚是比較接近於直觀形式的膜厚, 通常以µm為單位; 質量膜厚反映了薄膜(mó)中(zhōng)包含物質為多少(shǎo),通常 以 µg/cm#8217;為單位, 物性膜厚在實(shí)際使用上較(jiào)有用, 而且比較容易測量。
由於實際表麵並不平整,同(tóng)時薄膜製作過程中又不可避免地要有(yǒu)各種缺陷(xiàn)、 雜質和吸附分子等存在,所以不管用哪 一種方法來(lái)定義和測量膜厚,都是一個平均值,而且足包括了雜質、缺陷以及吸附(fù)分子在內的薄(báo)膜的厚度值。
真空鍍膜機鍍膜是在真空腔體下進行鍍膜的,對於測量膜厚度來說,是需要這方麵專業的測(cè)量儀才能測出厚度大小。